金融界 2024 年 8 月 30 日消息，天眼查知识产权信息显示，全芯智造技术有限公司取得一项名为「芯片失效模式的确定方法、终端「，授权公告号 CN113823349B，申请日期为 2021 年 8 月。
专利摘要显示，一种芯片失效模式的确定方法、终端，所述方法包括：获取芯片在多个测试电压下的失效比特；对所获取到的失效比特进行失效模式运算，获得至少一个失效比特组以及每一个失效比特组的失效模式，其中，所述失效比特组包括至少一个测试电压下的失效比特；基于所述失效比特组的失效模式，确定所述失效比特组中失效比特的失效模式。通过本发明方案能够提高芯片失效分析的准确度。
