金融界 2024 年 8 月 30 日訊息，天眼查智慧財產權資訊顯示，全芯智造技術有限公司取得一項名為「芯片失效模式的確定方法、終端「，授權公告號 CN113823349B，申請日期為 2021 年 8 月。
專利摘要顯示，一種芯片失效模式的確定方法、終端，所述方法包括：獲取芯片在多個測試電壓下的失效位元；對所獲取到的失效位元進行失效模式運算，獲得至少一個失效位元組以及每一個失效位元組的失效模式，其中，所述失效位元組包括至少一個測試電壓下的失效位元；基於所述失效位元組的失效模式，確定所述失效位元組中失效位元的失效模式。透過本發明方案能夠提高芯片失效分析的準確度。
