科技日報合肥3月21日電 （記者吳長鋒）記者21日從中國科學技術大學獲悉，該校物理學院張鬥國教授課題組，提出並實作了一種基於向量光場調控原理的動量空間偏振濾波器件。該濾波器件安裝於傳統無標記光學顯微鏡後，可采集到單個奈米尺度物體的高對比度、高訊雜比光學顯微影像。研究成果日前線上發表於綜合性學術期刊【美國國家科學院院刊】。
單個奈米尺度物體精準表征，在基礎科學研究與工業套用方面均具有重要意義。但得到廣泛套用的無標記光學顯微成像技術，難以對單個奈米尺度物體進行高對比度、高訊雜比成像，更難以即時記錄其演化過程和運動軌跡。
為了解決這個問題，張鬥國課題組設計並實作了一種動量空間偏振濾波器件，它可在動量空間進行向量場偏振調控，大振幅過濾、抑制各類背景雜訊。只有單個奈米尺度物體的光散射訊號能透過該濾波器件，被探測器采集到，從而實作了單個奈米尺度物體的高對比度、高訊雜比的成像探測。
