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漢威科技申請激光多氣體微泄漏檢測專利,動態調整激光器並確定氣體濃度

2024-07-16科技

金融界 2024 年 7 月 12 日訊息,天眼查知識產權資訊顯示,漢威科技集團股份有限公司申請一項名為「激光多氣體微泄漏檢測方法、系統及介質」,公開號 CN202410410031.8,申請日期為 2024 年 4 月。

專利摘要顯示,本發明提供了一種激光多氣體微泄漏檢測方法、系統及介質,所述方法包括:利用溫度即時值 T 和預先配置的環境溫度關系模型,確定激光氣體傳感器中激光器的目標工作溫度 T 實 1,對激光器進行動態調整;確定第一目標氣體對應的響應值Ⅰ及吸收峰即時位置 P 實 1,判斷響應值Ⅰ是否大於第一閾值 V1;若是,則判斷吸收峰即時位置 P 實 1 是否處於第一目標氣體的預設吸收峰區間內,若是則利用第一目標氣體的標定曲線,獲得第一目標氣體的濃度;在第二目標氣體對應的響應值Ⅱ大於第二閾值 V2 時,利用第二目標氣體的標定曲線,獲得第二目標氣體的濃度;若否,則動態調整激光器,再確定第二目標氣體對應的響應值Ⅱ及吸收峰即時位置 P 實 2,判斷響應值Ⅱ是否大於第二閾值 V2,若大於第二閾值 V2,則在吸收峰即時位置 P 實 2 處於預設吸收峰區間時,利用第二目標氣體的標定曲線,獲得第二目標氣體的濃度。