電子背散射繞射（EBSD）提供的基本資訊相對簡單：
EBSD技術以這兩個主要資訊為基礎，可以額外提供許多微觀組織的測量資訊，如下所示。EBSD技術的效能取決於多種因素，包括：樣品制備、掃描電子顯微鏡、電子束參數、EBSD探測器和軟件，以及樣品本身。雖然如此，下表還是給出了EBSD技術的數據和效能的一般指標：
EBSD提供的微觀組織資訊
大多數EBSD分析是完全自動化的，其中相和取向數據，可以從樣品表面由點組成的柵格區域中快速采集。然後利用這些數據，以相分布圖或取向分布圖的形式，重構微觀組織，並從這些數據中提取進一步的資訊。
相
EBSD經常用於繪制樣品中相的分布並測量相的面積分數。區分不同的相，可以僅基於晶體學上的差異，也可能包含化學資訊（來自能譜儀，EDS）。典型的輸出是相分布圖，以及各個相對應的面積百分比，如下面的變形火成巖例項所示。EBSD還可以和EDS聯用，來幫助鑒定樣品中的未知物相（例如析出相）。這種「相鑒定」方法十分快捷，但是要求配備適合的物相數據庫，因此就其本身而言，並不是真正的物相鑒定。
織構
晶體取向數據是EBSD技術最基本的輸出數據，因此，它是測量織構（也稱為晶體擇優取向）的理想技術。EBSD速度快，並且同時提供空間分辨的資訊，因此我們能確定織構在樣品中的變化，這使得EBSD技術相比於其他織構分析手段，如XRD或中子繞射更具有優勢。但是，EBSD只能提供樣品表面的織構測量，除非結合原位切片分析的方法。織構測量是一系列樣品類別的典型分析方法，尤其是在金屬加工行業和地質科學（在地質科學中晶體擇優取向（CPO）用於推斷特定滑移系的啟動）。下面的例項展示的是，用極圖表示的增材制造Ti64合金中α-Ti織構。
晶粒
EBSD取向面分布圖提供了晶體學取向的空間分辨資訊，從中可以推匯出嚴格的晶粒尺寸和形狀。這些資訊包括：
所有這些資訊都可以繪圖成面分布圖，如下圖所示，或者用於嚴格的統計數據分析。基於EBSD數據的晶粒分析，有廣泛的套用：從金屬和合金加工的質素控制到納米尺度表面塗層的晶粒結構。最新的EBSD後處理軟件，能重構出位移型相變前的高溫相的晶粒結構（例如馬氏體鋼中的原奧氏體晶粒）。
晶界
從EBSD的取向測量結果，還可以推匯出樣品晶界的詳細晶體學資訊。這使得EBSD技術比其他技術更有優勢，因為它提供了有關晶界本質的完整資訊和完美的統計資訊。從EBSD面分布圖推匯出有關晶界的資訊包括：
以下例項影像來自於形變和熱處理後的Al-Mg合金。反極圖顯示了低角晶界（2° ~5°）的旋轉軸，明顯的偏聚於<111>軸。圖中紅色標註了取向差大於2°，且旋轉軸和<111>方向相差在5°之內的晶界。這種晶體學和空間資訊的結合，凸顯了一個事實，即：這種特殊的小角晶界，優先在視場最下面的晶粒中形成，可能是受到初始取向的控制。
應變
很多EBSD分析是為了表征和定量樣品中的應變。雖然可以透過高分辨EBSD（HR-EBSD）分析測量彈性應變，但是EBSD更常用來表征塑性應變。這可以透過多種方式來實作：
利用EBSD研究形變和應變，在很多不同的套用領域都很常見，但對研究失效和裂紋擴充套件尤其有效。作為一個例項，下圖展示了雙相鋼樣品中裂紋尖端的塑性變形。
