簡介：
過去十年來，原子水平成像技術取得了長足的進步，使科學家能夠直觀地描繪單個分子中化學鍵的差異。蘇黎世 IBM 研究中心的一組研究人員利用非接觸式原子力顯微鏡（AFM）技術，成功地觀察到納米石墨烯分子或C60中各個原子之間的詳細化學鍵。
探索原子鍵的微妙之處：
透過非接觸式原子力顯微鏡（AFM）技術，科學家們能夠觀察到單個分子中不同類別化學鍵的微妙差異。在影像中，人們可以清晰地看到化學鍵之間的亮點和暗點，這對應於較高和較低的電子密度。透過觀察納米石墨烯分子的影像，研究人員發現某些CC化學鍵比其他化學鍵更加突出，這是由於單個原子之間的鍵在長度和強度上略有不同。
Leo Gross 博士表示：「現在我們第一次能夠在視覺上區分不同類別的化學鍵，這真的很令人興奮。」這項研究的成果標誌著科學家們對原子水平成像技術的進一步突破。
技術背後的奧秘：
為了建立這些影像，IBM 研究人員利用原子力顯微鏡，其尖端末端附有一個一氧化碳分子。透過測量尖端和樣品之間的振蕩，AFM技術可以慢慢地建立非常詳細的分子影像。這種技術使得區分僅相差三皮米的單個鍵成為可能。
Leo Gross 博士解釋道：「我們發現了兩種不同的對比機制來區分鍵。第一個是基於在鍵上方測量的微小力的差異。我們預計會出現這種對比，但這是一個需要解決的挑戰。」他繼續說道：「第二個對比機制確實令人驚訝：在AFM測量中，鍵出現了不同的長度。在從頭計算的幫助下，我們發現一氧化碳分子在尖端的傾斜是造成這種對比的原因。」
結論：
透過非接觸式原子力顯微鏡（AFM）技術，科學家們得以觀察到分子化學鍵的微妙差異，這為進一步探索分子結構和性質提供了重要的技術手段。這一突破性的成果將為分子級別的研究和套用開辟新的可能性，推動科學領域的不斷發展和創新。
