礦粉雷射粒度儀-銅粉粒徑分布測試儀-煤粉雷射粒度分布檢測裝置機器-廈門科王電子
雷射粒度分析儀是一種用於測量粉末和液體中顆粒大小的儀器。它利用雷射照射液體樣本，透過測量散射光的角度和強度來計算顆粒的大小和分布。這種儀器在許多領域都有廣泛的套用，如制藥、化工、陶瓷和礦物加工等。石墨粉是一種廣泛套用於工業領域的碳材料，其粒度分布對於其效能和套用具有重要影響。因此，準確地測定石墨粉的粒度分布是至關重要的。本文將介紹石墨粉粒度分布測定的方法、原理、實驗步驟以及結果分析。
一、測定方法
測定石墨粉粒度分布的方法有多種，其中最常用的是雷射粒度分析法和顯微鏡法。雷射粒度分析法是透過雷射照射石墨粉樣品，利用光散射原理測量石墨粉顆粒的大小和分布。該方法具有操作簡便、測量速度快、精度高等優點，適用於大量樣品的分析。顯微鏡法是透過顯微鏡觀察石墨粉顆粒的大小和形狀，並利用影像處理軟體進行分析。該方法具有較高的分辨率和精度，但測量速度較慢，適用於少量或特殊樣品的分析。
雷射粒度儀的工作原理：
濕法雷射粒度儀主要基於雷射繞射原理，當雷射束透過樣品時，顆粒會產生繞射現象，繞射角與顆粒大小有關。透過測量繞射角，可以確定顆粒大小及分布情況。同時，濕法雷射粒度儀還采用濕法分散技術，將樣品分散在水中，使樣品更容易進入雷射束中，提高了測量精度和穩定性。
技術規格參數：
規格型-號：KW510
依據標準：ISO 13320-1:1999；GB/T19077.1-2008
測試範圍：0.1μm -600μm
探測器通道數：76
準確性誤差：<1%（國家標準樣品D50值）
重復性誤差：<0.5%（國家標準樣品D50值）
濕法雷射粒度儀的操作步驟：
1. 樣品準備
選取一定量的石墨粉樣品，將其充分混合均勻，然後稱取一定量的樣品放入樣品瓶中備用。
2. 雷射粒度分析
將樣品瓶中的石墨粉倒入雷射粒度分析儀的樣品池中，調整雷射束的角度和強度，啟動儀器進行測量。測量過程中，儀器會自動記錄不同粒徑範圍內的顆粒數量和分布情況。
3. 數據處理與分析
將測量得到的原始數據匯入電腦中進行處理和分析。利用相關軟體繪制粒度分布曲線，計算平均粒徑、中位徑等參數，並對結果進行解釋和討論。
三、結果分析
1. 粒度分布曲線
透過繪制粒度分布曲線可以直觀地了解石墨粉顆粒的大小和分布情況。通常采用累積分布曲線和數密度分布曲線兩種形式進行表示。累積分布曲線表示不同粒徑範圍內的顆粒所占的比例，數密度分布曲線則表示不同粒徑顆粒的數量分布情況。
2. 參數計算與分析
根據粒度分布曲線可以計算出平均粒徑、中位徑等參數，這些參數對於了解石墨粉的效能和套用具有重要意義。例如，平均粒徑的大小直接影響石墨粉的物理和化學性質，如比表面積、孔隙率等；中位徑則可以反映石墨粉的顆粒大小和形態。透過對這些參數的分析可以了解石墨粉的制備工藝和效能特點，為進一步最佳化制備工藝和提高石墨粉效能提供依據。
在粒度測量中我們常常會遇到這樣的情況：同一個樣品，不同的儀器往往測出不同的結果。一些粉體生產廠家和使用者往往會根據各自粒度數據來評判產品品質，從而產生種種分歧。所以粒度測量數據的不一致性是目前粒度測量中的一個普遍現象。
產生這種現象的原因主要有以下兩個方面：第一，自然界中顆粒是不規則的，即非球形的，由於不同設計原理的儀器所測出的等效粒徑不同，所以測量結果不同；第二，選擇粒度測量方法的基準不同，所得到的粒度值會有較大差異。
因此，不同原理的粒度儀器，對同一樣品得到不同粒度測量結果是正常的，如果測量一致，反而不正常了，除非是標準球形樣品。
一般情況下由同一粒徑顆粒組成的顆粒群稱為單分散顆粒群。實際上單分散顆粒群是極少的。顆粒群體通常由大量大小不同的顆粒組成。
註意事項：
在使用濕法雷射粒度分析儀時，需要註意以下幾點。首先，需要選擇合適的測量參數，如雷射波長、散射角度和測量時間等。這些參數會影響測量結果的準確性和可靠性。其次，需要保證樣品的代表性，以避免誤差和偏差。此外，需要定期對儀器進行校準和維護，以確保其準確性和可靠性。
透過雷射粒度分析和顯微鏡法可以準確地測定石墨粉的粒度分布，了解其顆粒大小和分布情況。實驗過程中需要註意樣品的準備和處理，以確保測量結果的準確性和可靠性。透過對測量結果的分析可以了解石墨粉的效能和套用特點，為進一步最佳化制備工藝和提高石墨粉效能提供依據。在實際套用中，根據具體情況選擇合適的測定方法，對於指導生產和研究具有重要的意義。雷射粒度分析儀具有許多優點。首先，它具有非侵入性，可以在不幹擾樣品的情況下進行測量。其次，它具有高精度和高分辨率，可以準確地測量顆粒大小和分布。此外，這種儀器還具有快速測量和自動化操作等優點，可以大大提高生產效率和產品品質。
